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簡(jiǎn)要描述：TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀采用了一體化集成設(shè)計(jì)，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測(cè)試，無(wú)需頻繁切換接線及設(shè)置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測(cè)試，適用于生產(chǎn)線快速測(cè)試、自動(dòng)化集成。
產(chǎn)品型號(hào)：TH511.更新時(shí)間：2023-06-20訪 問(wèn) 量：801相關(guān)文章
詳細(xì)介紹
| 品牌 | 同惠電子 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
常州同惠 TH511 半導(dǎo)體C-V特性分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)
■標(biāo)配2通道，可擴(kuò)展至6通道，可測(cè)單管、多芯或模組器件
■一體化設(shè)計(jì)：LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機(jī)軟件
■雙CPU架構(gòu)，最短積分時(shí)間0.56ms（1800次/秒）
■10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800，Linux系統(tǒng)
■單管器件（點(diǎn)測(cè)）、模組器件(列表掃描）、曲線掃描(選件)三種測(cè)試方式
■四寄生參數(shù)（Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Rg）同屏一鍵測(cè)量及顯示
■CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描
■電容快速充電技術(shù)，實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試
■接觸檢查Cont
■通斷測(cè)試OP-SH
■自動(dòng)延時(shí)設(shè)置
■柵極電壓VGS：0-±40V
■漏極電壓VDS：0-±200V
■10檔分選
應(yīng)用
■ 半導(dǎo)體元件/功率元件
二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光
電子芯片等寄生電容測(cè)試、C-V特性分析
■ 半導(dǎo)體材料
晶圓切割、C-V特性分析
■ 液晶材料
彈性常數(shù)分析
■電容元件
電容器C-V特性測(cè)試及分析，電容式傳感器測(cè)試分析
TH511 半導(dǎo)體C-V特性分析儀介紹
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當(dāng)前半導(dǎo)體功率器件發(fā)展趨勢(shì)，針對(duì)半導(dǎo)體材料及功率器件設(shè)計(jì)的分析儀器。
儀器采用了一體化集成設(shè)計(jì)，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測(cè)試，無(wú)需頻繁切換接線及設(shè)置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測(cè)試，適用于生產(chǎn)線快速測(cè)試、自動(dòng)化集成。
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實(shí)驗(yàn)室對(duì)半導(dǎo)體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設(shè)計(jì)頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達(dá)±40V，VDS電壓可達(dá)±200V/±1500V/±3000V，足以滿足大多數(shù)功率器件測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào) | TH511 | TH512 | TH513 | |||
通道數(shù) | 2（可選配4/6通道） | 1 | ||||
顯示 | 顯示器 | 10.1英寸(對(duì)角線)電容觸摸屏 | ||||
比例 | 16:9 | |||||
分辨率 | 1280×RGB×800 | |||||
測(cè)量參數(shù) | Ciss、Coss、Crss、Rg，四參數(shù)任意選擇 | |||||
測(cè)試頻率 | 范圍 | 1kHz-2MHz | ||||
精度 | 0.01% | |||||
分辨率 | 10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz | |||||
100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz | ||||||
1Hz 100.000kHz-999.999kHz | ||||||
10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz | ||||||
測(cè)試電平 | 電壓范圍 | 5mVrms-2Vrms | ||||
準(zhǔn)確度 | ±（10%×設(shè)定值+2mV） | |||||
分辨率 | 1mVrms 5mVrms-1Vrms | |||||
10mVrms 1Vrms-2Vrms | ||||||
VGS電壓 | 范圍 | 0 - ±40V | ||||
準(zhǔn)確度 | 1%×設(shè)定電壓+8mV | |||||
分辨率 | 1mV 0V - ±10V | |||||
10mV ±10V -±40V | ||||||
VDS電壓 | 范圍 | 0 - ±200V | 0 - ±1500V | 0 - ±3000V | ||
準(zhǔn)確度 | 1%×設(shè)定電壓+100mV | |||||
輸出阻抗 | 100Ω，±2%@1kHz | |||||
數(shù)學(xué)運(yùn)算 | 與標(biāo)稱(chēng)值的絕對(duì)偏差Δ，與標(biāo)稱(chēng)值的百分比偏差Δ% | |||||
校準(zhǔn)功能 | 開(kāi)路OPEN、短路SHORT、負(fù)載LOAD | |||||
測(cè)量平均 | 1-255次 | |||||
AD轉(zhuǎn)換時(shí)間（ms/次） | 快速+：0.56ms(＞5kHz) 快速：3.3ms 中速：90ms 慢速：220ms | |||||
最高準(zhǔn)確度 | 0.5%（具體參考說(shuō)明書(shū)） | |||||
Ciss、Coss、Crss | 0.00001pF - 9.99999F | |||||
Rg | 0.001mΩ - 99.9999MΩ | |||||
Δ% | ±（0.000% - 999.9%） | |||||
多功能參數(shù)列表掃描 | 點(diǎn)數(shù) | 50點(diǎn)，每個(gè)點(diǎn)可設(shè)置平均數(shù)，每個(gè)點(diǎn)可單獨(dú)分選 | ||||
參數(shù) | 測(cè)試頻率、Vg、Vd、通道 | |||||
觸發(fā)模式 | 順序SEQ：當(dāng)一次觸發(fā)后，在所有掃描點(diǎn)測(cè)量，/EOM/INDEX只輸出一次 | |||||
步進(jìn)STEP：每次觸發(fā)執(zhí)行一個(gè)掃描點(diǎn)測(cè)量，每點(diǎn)均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結(jié)果只在最后的/EOM才輸出 | ||||||
圖形掃描 | 掃描點(diǎn)數(shù) | 任意點(diǎn)可選，最多1001點(diǎn) | ||||
結(jié)果顯示 | 同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 | |||||
顯示范圍 | 實(shí)時(shí)自動(dòng)、鎖定 | |||||
坐標(biāo)標(biāo)尺 | 對(duì)數(shù)、線性 | |||||
掃描參數(shù)觸發(fā)方式 | Vg、Vd | |||||
單次 | 手動(dòng)觸發(fā)一次，從起點(diǎn)到終點(diǎn)一次掃描完成，下個(gè)觸發(fā)信號(hào)啟動(dòng)新一次掃描 | |||||
連續(xù) | 從起點(diǎn)到終點(diǎn)無(wú)限次循環(huán)掃描 | |||||
結(jié)果保存 | 圖形、文件 | |||||
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